對(duì)象

研發(fā)工程師、質(zhì)量工程師、IE工程師

目的

提高企業(yè)過程能力控制

內(nèi)容

第一模塊：概論（0.5hr）

?  質(zhì)量的含義

?  質(zhì)量的發(fā)展歷程

?  過程能力指數(shù)（Cp/Cpk、Pp/Ppk)的作用

第二模塊：基本統(tǒng)計(jì)知識(shí)基礎(chǔ)（2.5hrs）

?  課堂練習(xí)

?  偏差及其組成

?  總體及樣本、抽樣技術(shù)

?  連續(xù)變量和邏輯變量

?  中心偏倚與離散趨勢(shì)

?  連續(xù)變量：居中趨勢(shì)和離散趨勢(shì)

?  正態(tài)分布及中心極限定律

?  數(shù)據(jù)非正態(tài)的原因分析

?  缺陷與缺陷品

第三模塊：識(shí)別過程穩(wěn)定的工具（1.0hrs）

?  直方圖

?  趨勢(shì)圖

?  箱線圖

第四模塊：過程能力指數(shù)（Cp/Cpk、Pp/Ppk)（4.0hrs）

?  過程潛力指數(shù)（Cp、Pp）的計(jì)算公式和原理

?  過程表現(xiàn)指數(shù)（Cpk、Ppk）的計(jì)算公式和原理

?  過程能力指數(shù)(Pp/Ppk、Cp/Cpk)與測(cè)量系統(tǒng)之間的關(guān)系

?  Pp/Ppk在新品試生產(chǎn)階段中的運(yùn)用

?  試生產(chǎn)的準(zhǔn)備及數(shù)據(jù)收集的方式

?  試生產(chǎn)過程中誤差來源的分析

?  Pp/Ppk在試生產(chǎn)中的含義及要求

?  Pp/Ppk不滿足要求時(shí)的改進(jìn)方案

?  Minitab中計(jì)算方法及課堂練習(xí)

?  Cp/Cpk在量產(chǎn)階段的運(yùn)用

?  分析過程的特性（獨(dú)立或自相關(guān)---組還是個(gè)？）

?  Cp/Cpk的數(shù)據(jù)收集方式

?  量產(chǎn)過程中誤差來源的分析

?  Cp/Cpk在量產(chǎn)中的含義及要求

?  Cp/Cpk不滿足要求時(shí)問題的來源及改進(jìn)方案

?  Minitab中計(jì)算方法及課堂練習(xí)

?  Pp/Ppk在長(zhǎng)期生產(chǎn)階段中的運(yùn)用

?  長(zhǎng)期Pp/Ppk的數(shù)據(jù)收集方式

?  長(zhǎng)期生產(chǎn)過程中誤差來源

?  Pp/Ppk在在長(zhǎng)期生產(chǎn)中的含義及要求

?  Pp/Ppk不滿足要求時(shí)問題的來源及改進(jìn)方案

?  Minitab中計(jì)算方法及課堂練習(xí)

?  Cp/Cpk、Pp/Ppk之間的關(guān)系

課堂討論

第五模塊：過程能力的提升（4.0hrs）

?  收集數(shù)據(jù)，識(shí)別問題的性質(zhì)（技術(shù)、標(biāo)準(zhǔn)化、過程控制？）

?  繪制過程流程圖

課堂練習(xí)

篩選主要原因

?  可控/不可控

?  可控：要素、參數(shù)的識(shí)別與區(qū)分

課堂練習(xí)

?  識(shí)別關(guān)鍵要素的方法—分層法、多變量圖等

?  識(shí)別關(guān)鍵參數(shù)的方法—方差分析/回歸分析、DOE簡(jiǎn)介